表面掃描雷射共焦位移計

LT-9000 系列

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表面掃描雷射共焦位移計 LT-9000 系列

LT-9000 系列 - 表面掃描雷射共焦位移計

雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。

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產品特性

  • 高精密度雙掃描方式
  • 0.3 µm 的高解析度可測定所的對象物
  • 追求現場操作的便利性
  • 使用途更為廣泛的多樣化測定模式

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